Turin (Italy)
julio 07, 2023
SPEA presenta los probadores de semiconductores en Semicon West 2023
SPEA exhibe sus innovaciones en las pruebas de señales mixtas y semiconductorse de potencia, presentando la tecnología de automantenimiento en plataformas de prueba
SPEA comunica que la empresa va a estar como cada año en Semicon West 2023 en San Francisco del 11 de julio al 13 de julio de 2023.
En el Centro Moscone, la innovación y la experiencia de SPEA determinarán la posición de la marca como empresa de soluciones tecnológicas de primer orden en una industria donde la calidad y la fiabilidad del producto revisten una importancia fundamental.
En el stand n.º 1161 situado en la entrada sur, SPEA presentará su concepto sobre el futuro de las pruebas, mostrando las nuevas tecnologías siguientes.
Capacidades de automantenimiento en la plataforma de pruebas DOT
Las actividades de mantenimiento predictivo avanzado son realizadas automáticamente por los probadores DOT de SPEA: dichos sistemas, actualmente, recogen, analizan y notifican cualquier diferencia respecto de las prestaciones estándares, para efectuar las acciones requeridas y evitar deterioros del proceso y paradas del sistema.
Todas las herramientas DOT tienen una memoria a bordo, usada para evaluar su deterioro mecánico, mientras que el probador, en un modo autónomo, comprueba los datos de calibración de la herramienta (sin desmontar la plataforma de carga) y, cuando las prestaciones están fuera de las especificaciones, automáticamente, ejecuta el procedimiento de calibración de la herramienta.
Una visión detallada de las ventajas del automantenimiento se ofrecerá durante las presentaciones específicas en el Test Vision Symposium, y best of West stages.
Nuevo módulo de canal digital de alta velocidad para probadores de señales mixtas DOT
Una nueva opción de tarjeta 3.2Gbps para los probadores DOT de SPEA aborda las tecnologías clave, tales como las comunicaciones de banda ancha inalámbricas, la informática de alto rendimiento, el escaneo médico, la inteligencia artificial, el audio y vídeo para consumidores y la conectividad para el sector automovilístico.
Actualmente, los probadores DOT están disponibles para ofrecer una cobertura con la mejor rentabilidad para los requisitos de las pruebas de la próxima generación de SerDes, convertidores DAC/ADC, traslación del buffer/nivel, interfaces DVI/HDMI, SoC y microcontroladores.
Con hasta 128 canales digitales en un solo equipo, la nueva opción del canal permite efectuar pruebas de múltiples emplazamientos y rentables de dispositivos de interfaz de comunicación de alta velocidad, que requieren una modulación de espectro ensanchado en canales y señales de reloj para comprobar su integridad de señal y robustez versus las interferencias electromagnéticas.
El módulo, diseñado con DSP para pin y una librería que incluye DSP, para el cálculo digital, reduce el tiempo de prueba y simplifica la asignación de pin/canal, agilizando el desarrollo de la plataforma de carga.
La arquitectura con protocolo contribuye a implementar en un modo eficiente la comunicación DUT en una amplia variedad de protocolos, reduciendo la complejidad de patrones y el tiempo de ejecución del programa de pruebas, simplificando, contemporáneamente, el proceso de depuración y caracterización.
La generación de formas de onda flexibles, señales de reloj de alta velocidad y baja estabilidad con modulación de estabilidad, y flexibilidad de temporización, todo ello es perfecto para probar aplicaciones de alta velocidad.
Probador enfocado a dispositivos: Su probador, en una plataforma
La exitosa plataforma de pruebas DOT se expondrá en el stand de SPEA en San Francisco. Este innovador probador de señales mixtas analógicas se basa en un concepto revolucionario de probador a bordo: Todos los recursos de prueba están alojados en una única plataforma de equipos, con lo que se obtiene una gran simplificación de las conexiones de la plataforma de carga entre los canales del probador y los dispositivos sometidos a prueba.
El equipo de canal multifunción, multiprocesador de DOT, combina capacidades de procesamiento analógico, digital y de señales, incluyendo CPUs, módulos de control DSP y unidades lógicas programables.
La plataforma es modular y configurable: Puede estar compuesta por un controlador a bordo y hasta cuatro tarjetas de canal, que se seleccionan para construir la combinación de rendimiento perfecto para cumplir las exigencias de prueba del cliente, para un total de hasta 256 canales en una única ranura de equipo.
Cada tarjeta individual de canal se caracteriza por una tarjeta matriz específica, lo cual simplifica el diseño de la plataforma de carga y reduce la cantidad relés instalados. El probador se puede equipar con herramientas de un tipo, simplificando así enormemente la composición del sistema, la programación y el mantenimiento, y cumplir de la mejor forma todos los requisitos de pruebas de dispositivos.
Soluciones completas para probar semiconductores de potencia
Con su DOT800T, SPEA proporciona una solución completa para las pruebas de potencia, reuniendo en una sola máquina todos los recursos para efectuar pruebas ISO, CA, CC en toda la gama de aplicaciones de potencia.
Este probador está expresamente diseñado para abordar los requisitos de pruebas de dispositivos de silicio tradicionales, así como las nuevas tecnologías de nitruro de galio y carburo de silicio, cubriendo su gama de rendimiento con las capacidades de fuente de tensión e intensidad más elevadas y capacidades de medición de alta frecuencia y baja corriente.
Una arquitectura de múltiples núcleos permite al DOT800T efectuar pruebas estáticas, dinámicas y de aislamiento precisas en estaciones específicas, y cada una de ellas con un controlador independiente. Los diferentes programas de prueba se realizan en un auténtico modo paralelo, asíncrono, ya que cada controlador de núcleo de prueba gestiona recursos de prueba, conexiones de herramientas, y ejecución del programa de prueba.
