SPEA präsentiert Halbleitertester auf der Semicon West 2023

SPEA stellt Testinnovationen für Mixed-Signal- und Leistungshalbleiter vor und führt die Auto-Maintenance-Technologie auf Testplattformen ein

SPEA gibt bekannt, dass das Unternehmen wie jedes Jahr auf der Semicon West 2023 in San Francisco vertreten sein wird, nämlich vom 11. bis zum 13. Juli 2023.

Im Moscone Center wird SPEAs Innovation und Expertise die Marke als führendes Unternehmen für Technologielösungen in einer Branche positionieren, in der Produktqualität und Zuverlässigkeit von größter Bedeutung sind.

Am Stand 1161 in der Südhalle wird SPEA seine Vorstellung von der Zukunft des Testens mit einer Ausstellung der folgenden neuen Technologien präsentieren.

Auto-Maintenance-Funktionen auf der DOT-Testplattform

Die SPEA DOT-Tester führen automatisch fortschrittliche vorbeugende Wartungsmaßnahmen durch: Diese Systeme sind nun in der Lage, jede Abweichung von der Standardleistung zu erfassen, zu analysieren und zu melden, um die erforderlichen Maßnahmen zu ergreifen und Prozessbeeinträchtigungen und Systemausfälle zu vermeiden.

Alle DOT-Instrumente verfügen über einen integrierten Speicher zur Bewertung der mechanischen Abnutzung, während der Tester die Kalibrierungsdaten der Geräte selbstständig überprüft (ohne dass das Load Board entfernt werden muss) und bei Abweichungen von den Spezifikationen automatisch die Kalibrierung der Geräte einleitet.

Einen ausführlicher Überblick über die Vorteile von Auto-Maintenance bieten die speziellen Vorträge auf dem „Test Vision Symposium“ und der Bühne „Best of West“.

Neues digitales Hochgeschwindigkeits-Kanalmodul für DOT-Mixed-Signal-Tester

Eine neue 3,2-Gbps-Kartenoption für DOT-Tester von SPEA richtet sich an Schlüsseltechnologien wie drahtlose Breitbandkommunikation, Hochleistungscomputer, medizinische Bildgebung, künstliche Intelligenz, Audio- und Videokomponenten für Verbraucher sowie Konnektivität im Automobilbereich.

DOT-Tester sind nun in der Lage, mit höchster Kosteneffizienz die Testanforderungen von SerDes, DAC/ADC-Wandlern, Puffer-/Level-Translatoren, DVI/HDMI-Schnittstellen, SoC und Mikrocontrollern der nächsten Generation zu erfüllen.

Mit bis zu 128 digitalen Kanälen in einem einzigen Gerät ermöglicht die neue Kanaloption die kostengünstige Prüfung von Hochgeschwindigkeits-Kommunikationsschnittstellen, die eine Frequenzspreizungsmodulation von Kanälen und Taktsignalen erfordern, um deren Signalintegrität und Robustheit gegenüber EMI zu überprüfen.

Das Modul ist mit einem DSP pro Pin und einer umfassenden DSP-Bibliothek für die Berechnung digitaler Daten ausgestattet. Es reduziert die Testzeit und vereinfacht die Pin-/Kanal-Zuordnung, wodurch die Entwicklung des Load Boards beschleunigt wird. Die protokollbewusste Architektur trägt zur effizienten Implementierung der DUT-Kommunikation über eine Vielzahl von Standardprotokollen bei, reduziert die Komplexität der Muster und die Ausführungszeit des Testprogramms und vereinfacht gleichzeitig den Debug- und Charakterisierungsprozess.

Flexible Funktionsgenerierung, jitterarme Hochgeschwindigkeitstaktsignale mit Jittermodulation und Timing-Flexibilität sind die perfekte Lösung für das Testen von Hochgeschwindigkeitsanwendungen.

Geräteorientierter Tester: Ihr Tester in einem Board

Die erfolgreiche DOT-Testplattform wird auf dem SPEA-Stand in San Francisco zu sehen sein. Dieser innovative Tester für analoge Mischsignale basiert auf einem revolutionären Tester-im-Board-Konzept: Alle Testressourcen sind auf einem einzigen Geräteboard untergebracht, wodurch sich die Verbindungen zwischen den Kanälen des Testers und den zu testenden Geräten erheblich vereinfachen lassen.

Das DOT-Gerät mit mehreren Prozessoren und Funktionskanälen kombiniert analoge, digitale und Signalverarbeitungsfunktionen, einschließlich mehrerer Steuer-CPUs, DSP-Module und programmierbarer Logikeinheiten.

Das Board ist modular und konfigurierbar: Es kann mit einem integrierten Controller und bis zu vier Kanalkarten ausgestattet werden, die ausgewählt werden können, um die perfekte Leistungsmischung für die Testanforderungen des Kunden zu erstellen, so dass insgesamt bis zu 256 Kanäle in einem einzigen Instrumenten-Slot zur Verfügung stehen.

Jede einzelne Kanalkarte verfügt über eine eigene Matrixkarte, was den Aufbau des Load Boards vereinfacht und die Anzahl der installierten Relais reduziert. Der Tester kann mit One-Type-Instrumenten bestückt werden, was den Aufbau, die Programmierung und die Wartung des Systems erheblich vereinfacht und gleichzeitig alle Anforderungen an die Geräteprüfung optimal erfüllt.

Komplettlösungen für die Prüfung von Leistungshalbleitern

Mit seinem DOT800T bietet SPEA eine Komplettlösung zur Stromprüfung, indem alle Ressourcen in einer einzigen Maschine kombiniert werden, um ISO-, AC- und DC-Tests für eine gesamte Bandbreite von Leistungshalbleitern durchzuführen.

Dieser Tester wurde speziell für die Testanforderungen von traditionellen Silicium-Geräten sowie der neuen Galliumnitrid- und Siliciumcarbid-Technologien entwickelt und deckt deren Leistungsbereich mit den höchsten Spannungs- und Stromquellenfähigkeiten sowie Hochfrequenz- und Niederstrommessfähigkeiten ab.

Eine Multi-Core-Architektur ermöglicht es dem DOT800T, genaue statische, dynamische und Isolationstests auf entsprechenden Stationen durchzuführen, von denen jede über einen eigenen unabhängigen Controller verfügt. Die verschiedenen Testprogramme werden in einem echten parallelen, asynchronen Modus ausgeführt, da jeder Test Core Controller die Testressourcen, die Geräteverbindungen und die Testprogrammausführung verwaltet.

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