Turin (Italy)
Juni 14, 2023
Luca Fanellis Rede auf der SWTest 2023 ausgezeichnet
Luca Fanelli, Präsident und Geschäftsführer von SPEA America, hielt kürzlich eine Rede auf der Konferenz SWTest 2023. Sein Vortrag „Flying Probe Card Design for Medical and Other Challenging Applications“ (Flying-Probe-Card-Design für medizinische und andere anspruchsvolle Anwendungen) wurde als inspirierendster Vortrag der Konferenz ausgezeichnet.
Der Vortrag untersuchte die Herausforderungen, die einige der neuesten Trends im Waferdesign an das Wafer-Testverfahren stellen, wie z. B. der immer kleiner werdende Formfaktor, ungleichmäßige Wafer-Layout-Geometrien, nicht-quadratische Matrizen und unterschiedliche Matrizenausrichtungen sowie Multi-Projekt-Wafer.
Viele Wafer können heutzutage nicht mit Standardtestkarten getestet werden, da sie keine Standard-Layoutgeometrien aufweisen oder von beiden Seiten gleichzeitig kontaktiert werden müssen.
Um diese Herausforderungen zu meistern, hat SPEA eine neue Prober-Architektur entwickelt. Sie basiert auf mehreren mobilen Testkarten, die von Roboterachsen bewegt werden und den Wafer gleichzeitig von oben und unten berühren.
Mit diesem innovativen Ansatz werden die Grenzen der Testbarkeit auf das Wafer-Layout-Design verlagert. Dadurch vergrößert sich der Bereich der Anwendungen, die vollständig auf Waferebene getestet werden können, darunter Multi-Projekt-Wafer, unkonventionelle Layouts und hochdichte Geometrien.
Weitere Informationen über diese neue Architektur und darüber, wie sie der steigenden Nachfrage nach effizienteren Wafertests bei gleichzeitiger Minimierung der Kosten pro Matrix gerecht wird, finden Sie hier auf der Produktseite.
Über SWTest
Die jährlich stattfindende Konferenz SWTest ist die einzige Branchenkonferenz, die sich auf alle Aspekte der Halbleiter-Wafer- und Die-Level-Probe-Tests konzentriert.
Die Konferenz bietet die perfekte Mischung aus Hersteller- und Händlerpräsentationen. Es handelt sich weder um eine Verkaufsschau noch um eine akademische oder theoretische Konferenz.
Vielmehr ist sie ein Forum für Probe-Technologie, auf dem sich die Teilnehmer über die neuesten Entwicklungen in der Branche informieren und Ideen austauschen können.
